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Wire Probe Fixture

Wire Probe Fixture

PCB는 각종 전자제품에 사용되는 반도체 칩이 실장되어 메인보드와 전기적 신호를 주고 받을 수 있는 매개체 역할을 하며, PCB Test Fixture는 해당 PCB가 정상적인 기능 수행이 가능한지 양품 선별을 진행하는 BBT(Bare Board Test) 공정에서 사용 됩니다. 당사는 20년이 넘는 기간 동안 PCB BBT 공정 경험을 바탕으로, 다양한 타입의 PCB를 테스트 할 수 있는 고품질의 Fixture를 생산 중이며 많은 고객사로부터 기술을 인정받고 있습니다. Wire Probe Type은 BGA PCB의 BBT 회로검사용 지그로 사용되며, Wire Probe와 Pogo Pin을 적용합니다. PIN 설정은 2W 방식과 MICRO OPEN 검사가 가능한 2+4W 방식으로 설계하여 제작합니다.

 

WAFER LEVEL TEST SOCKET

 

WLCSP stands for Wafer-Level Chip-Scale Package, a type of integrated |cir cuit package designed to be mounted dir ectly on a printed circuit board |(PCB) without a board.

주요사항

  • 최소 pitch 0.08mm
  • 하중: 3gf~ tgf
  • Socket 소재:엔지니어링 플라스틱과 세라믹
  • 낮은 단가 제작 가능
  • 뛰어난 내구성 (100만 사이클 이상)
  • 빠른 납기일정:2주이내
  • 접촉저항: 10mΩ to 100mΩ

LOGIC TEST SOCKET

Spring Force

Initial Force
Recommended Stroke
Full Stroke
2.5gf
0.70mm @ 15.5gf
0.90mm @ 19.0gf

Material Spec

Barrel
Top Plunger
Bottom Plunger
Spring
PBT / Gold plated
SK4 / Gold plated
Becu / Gold plated
SWP / Gold plated

Mechanical Spec

Pointing Accuracy
Operating Temperature
Spring Life Expectancy
± 50um
-25°C ~ +125°C
200K <

Electrical Spec

DC Resistance (Avg)
Current Rating
Band Width
Self Inductance
Capacitance
<80mΩ
2 amps continuous
-1 dB @ 18.11 GHz
0.93nH
0.52pF

* 항목이 많으면 좌우 스크롤이 가능합니다.

WAFER LEVEL TEST SOCKET

 

WLCSP stands for Wafer-Level Chip-Scale Package, a type of integrated |cir cuit package designed to be mounted dir ectly on a printed circuit board |(PCB) without a board.

주요사항

  • 최소 pitch 0.08mm
  • 하중: 3gf~ tgf
  • Socket 소재:엔지니어링 플라스틱과 세라믹
  • 낮은 단가 제작 가능
  • 뛰어난 내구성 (100만 사이클 이상)
  • 빠른 납기일정:2주이내
  • 접촉저항: 10mΩ to 100mΩ